|
| Обозначение стандарта: | ГОСТ 18986.20-77 |
|
| Статус стандарта: | действующий |
|
| Название рус.: | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим |
| | Название англ.: | Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time |
| |
| | Дата введения в действие: | 01.01.1979 |
| | Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности |
| | Список изменений: | №0 от --2005-10-01 (рег. --2005-10-01) «Дата введения перенесена»
№1 от --1987-03-01 (рег. --1986-11-04) «Срок действия продлен»
|
|
| Приложение №1: | Поправка к ГОСТ 18986.20-77 |
| | c=&f2=3&f1=II001&l='>ОКС Общероссийский классификатор стандартовc=&f2=3&f1=II001031&l='>31 ЭЛЕКТРОНИКАc=&f2=3&f1=II001031080&l='>31.080 Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045c=&f2=3&f1=II002&l='>КГС Классификатор государственных стандартовc=&f2=3&f1=II002019&l='>Э Электронная техника, радиоэлектроника и связьc=&f2=3&f1=II002019002&l='>Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратурыc=&f2=3&f1=II002019002009&l='>Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
|
|
|
| Обозначение стандарта: | Поправка к ГОСТ 18986.20-77 |
|
| Дата введения в действие: | 01.10.2005 |
|
| Дата актуализации: | 15.01.2008 |
|
