|
| Обозначение стандарта: | ГОСТ 24613.8-83 |
|
| Статус стандарта: | действующий |
|
| Название рус.: | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции |
| | Название англ.: | Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage |
| |
| | Дата введения в действие: | 01.07.1984 |
| | Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора |
| | Взамен: | ГОСТ 22440.4-77 |
| | Список изменений: | №0 от --1988-06-28 (рег. --1988-06-28) «Срок действия продлен»
|
|
| c=&f2=3&f1=II001&l='>ОКС Общероссийский классификатор стандартовc=&f2=3&f1=II001031&l='>31 ЭЛЕКТРОНИКАc=&f2=3&f1=II001031200&l='>31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160c=&f2=3&f1=II002&l='>КГС Классификатор государственных стандартовc=&f2=3&f1=II002019&l='>Э Электронная техника, радиоэлектроника и связьc=&f2=3&f1=II002019002&l='>Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратурыc=&f2=3&f1=II002019002009&l='>Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
|
|
